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薄膜材料厚度均勻性測試儀

薄膜材料厚度均勻性測試儀

型    號:
報    價: 65700
更新時間:2023-04-18
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薄膜材(cai)料(liao)厚度均勻性測試(shi)儀適(shi)用于:塑(su)料(liao)薄膜、薄片(pian)、紙張(zhang)、箔片(pian)、硅片(pian)等各種材(cai)料(liao)的(de)厚度測量。

薄膜材料厚度均勻性測試儀的詳細資料:

薄膜材料厚度均勻性測試儀

薄膜材料厚度均勻性測試儀

主(zhu)要(yao)特點

接觸式測(ce)量(liang)原理

測厚傳感器

觸摸屏操作

扁平化人機交互界面顯示

真彩色(se)液晶顯示(shi)試驗數據(ju)、結果

手動循環、預(yu)約定時多(duo)種(zhong)測(ce)量(liang)模(mo)式

配置微型打印機,可自動打印單次、統計報告

配(pei)置標準通信接口

可支持DSM實驗室數據(ju)管理(li)系(xi)統,實現(xian)數據(ju)管理(li)(選購(gou))

技(ji)術指(zhi)標

測量范圍:0~2mm(標(biao)配)

0~10mm可選

0.1μm

測量速(su)度:1~25/min可調

薄膜:50mm217.5±1kPa(標配)

紙張:200mm250±1kPa(可選        

薄膜材料厚度均勻性測試儀

執行標準

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

產品配置

標準配置:主機、薄膜測量頭(tou)、微型打印機、標準量塊(kuai)

件:紙張測量頭(tou)、自動進(jin)樣裝置、配套(tao)軟(ruan)件(jian)、通(tong)信電纜、標準量(liang)塊(kuai)、DSM實驗(yan)室數據管理系統(tong)
阻隔性(xing):透(tou)氧儀(yi)、透(tou)濕儀(yi)、透(tou)氣儀(yi)、水(shui)蒸氣透(tou)過(guo)率測試(shi)儀(yi)、超(chao)高壓氣體(ti)透(tou)過(guo)率測試(shi)儀(yi)、分離膜(mo)測試(shi)儀(yi)、電池隔膜(mo)透(tou)氣度(du)儀(yi)

常規(gui)物理性:包裝拉力試(shi)(shi)驗(yan)(yan)機、高精度(du)(du)剝(bo)(bo)離力測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、動(dong)靜摩擦系(xi)數儀、熱封(feng)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)儀、熱封(feng)強(qiang)度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、薄(bo)膜沖擊試(shi)(shi)驗(yan)(yan)儀、密(mi)封(feng)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)儀、高精度(du)(du)薄(bo)膜測(ce)(ce)(ce)厚儀、扭(niu)矩(ju)儀、包裝性(xing)能測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、卡式瓶(ping)滑動(dong)性(xing)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、電化(hua)鋁(lv)剝(bo)(bo)離試(shi)(shi)驗(yan)(yan)儀、離型紙(zhi)剝(bo)(bo)離儀、泄漏強(qiang)度(du)(du)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀、彈性(xing)模(mo)量測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀等

注:產品技(ji)術(shu)規格如有變更(geng),恕不另行通(tong)知!





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